薄膜熱封儀測試原理是怎樣的╃·▩？

　　薄膜熱封儀測試原理▩•₪：採用熱壓封口法,將待封試樣置於上下熱封頭之間│₪•·，在預先設定的溫度·₪▩₪│、壓力·₪▩₪│、和時間下│₪•·，完成對試樣的封口╃☁·。經過反覆試驗為使用者找到最佳熱封引數提供指導╃☁·。為保證快速·₪▩₪│、精確的壓力設定│₪•·，熱封夾緩緩靠近並封合相臨樣本│₪•·，從而使較短的封合時間可精確再現╃☁·。熱封時間的設定可進行時間任意設定╃☁·。壓合腳踏開關│₪•·，試樣被壓│₪•·，其熱封時間由腳踏開關的壓合時間決定│₪•·，鬆開腳踏開關│₪•·，上下熱封刀從壓合狀態分離│₪•·，試樣熱封完畢╃☁·。

　　薄膜熱封儀技術優勢▩•₪：

　　1.壓力調節採用進口感測系統；

　　2.上下熱封頭獨立控溫；

　　3.數字PID.溫度控制,裝置全自動化測試；

　　4.下置式雙氣缸同步迴路,保證壓力均衡；

　　5.鋁罐封式的熱封頭保證了熱封面加熱的均勻性；

　　6.防燙設計和漏電保護設計│₪•·，操作更安全╃☁·。

　　7.特製內建快速降溫裝置│₪•·，高效率；

　　8.微電腦控制│₪•·，大液晶顯示；

　　9.手動與腳踏開關雙重模式│₪•·，人性化結構設計；

　　10.加長的熱封面可滿足大面積試樣或多試樣同時封口│₪•·，並支援多種熱封面形式的定製╃☁·。